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近年來(lái),隨著電子設(shè)備的不斷發(fā)展,對(duì)于其可靠性和穩(wěn)定性的要求也越來(lái)越高。在這一背景下,HAST測(cè)試(Highly Accelerated Stress Test)應(yīng)運(yùn)而生,成為評(píng)估電子元器件和設(shè)備高可靠性的重要手段。本文…