電機測試報告辦理

按照電機試驗的完整性，可以將電機試驗分為型式試驗、單項目或部分項目試驗等；其中型式試驗包括產(chǎn)品的性能試驗、安全試驗、氣候適應(yīng)性試驗和機械適應(yīng)性試驗等，其目的是全面考查產(chǎn)品的符合性；單項目或部分項目試驗是為了驗證某些參數(shù)指標(biāo)或性能而進(jìn)行的試驗。 電機的試驗項目也可以用四個模型來表達(dá)： ?電氣性能試驗?zāi)Ｐ? ?安全性能試驗?zāi)Ｐ? ?機械環(huán)境試驗?zāi)Ｐ? ?氣候環(huán)境試驗?zāi)Ｐ? 1.1 電氣性能試驗?zāi)Ｐ? 電氣性能試驗主要為溫升試驗、空載試驗、負(fù)載試驗、最大轉(zhuǎn)矩和最小轉(zhuǎn)矩試驗、起動轉(zhuǎn)矩和起動電流試驗等。這些試驗的主要目的是考察被測電機的耐熱等級、輸出能力、使用壽命和非正常工作時的適應(yīng)性。 電機放置于各種模擬的環(huán)境中，經(jīng)過相應(yīng)的程序后，通過試驗后的觀察或試驗，評定電機是否具備相應(yīng)的環(huán)境適應(yīng)性。此類試驗主要驗證電機在各種環(huán)境中，電機的絕緣能力，原材料的選用等是否滿足設(shè)計要求。  2 通用測試方法 2.1 絕緣電阻試驗 直流電壓施加于電介質(zhì)，經(jīng)過一定時間極化過程結(jié)束后，流過電介質(zhì)的泄露電流對應(yīng)的電阻稱為絕緣電阻。絕緣電阻是電氣設(shè)備和電氣線路最基本的絕緣指標(biāo)。絕緣電阻試驗的原理是測量電氣設(shè)備和電氣線路的冷態(tài)或熱態(tài)絕緣電阻，將測量的絕緣電阻值與標(biāo)準(zhǔn)要求值進(jìn)行比較從而判斷被測電機是否滿足電氣絕緣要求。  選擇適當(dāng)量程的絕緣電阻儀，將絕緣電阻儀的引出線連接在被測電機的指定位置，讀取絕緣電阻儀上的讀數(shù)，即可得到被測電機相應(yīng)位置的絕緣電阻。 2.2 耐電壓試驗 耐電壓試驗也稱為介電強度試驗，其試驗的原理是給被測電機繞組與接地之間提供規(guī)定的工頻試驗電壓或直流試驗電壓，該電壓會在繞組與接地之間產(chǎn)生泄露電流，在規(guī)定時間內(nèi)如果泄露電流小于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，則判斷電機通過了耐壓試驗，這就是電機耐壓試驗的原理。   2.3 耐沖擊電壓試驗 電機在運行過程中可能會受到雷電過電壓或操作過電壓的沖擊，這種沖擊會造成電機絕緣系統(tǒng)的損壞，嚴(yán)重時會造成電機工作的不正常，甚至?xí)斐芍卮笫鹿?。為了避免電機的絕緣系統(tǒng)的損傷，有必要在電機的繞組與機殼之間施加標(biāo)準(zhǔn)的1/2/50μs雷擊沖擊電壓波，通過觀察耐沖擊電壓試驗儀的聲光報警及繞組是否存在擊穿閃爍的現(xiàn)象來判斷電機是否符合雷擊或操作過電壓引起的電壓沖擊，這就是耐沖擊電壓試驗的原理   2.4 繞組匝間絕緣試驗 繞組匝間絕緣試驗采用沖擊波形比較法進(jìn)行測試，其原理為使用一個高壓窄脈沖施加于被測繞組的兩端，此脈沖能量在繞組與匹配電容之間產(chǎn)生一個并聯(lián)自激振蕩，由于繞組直流電阻的存在，此諧振為一種衰減震蕩波并較快趨近于零，分析被測繞組震蕩波形與標(biāo)準(zhǔn)繞組震蕩波形的差異，即可判斷被測繞組是否存在匝間短路或匝間絕緣不良的問題。   2.5 接觸電流和泄露電流試驗 接觸電流是指產(chǎn)品正常工作條件下，那些可以觸及的不解地的帶電部分通過人體阻抗到大地的電流，模擬的是人體接觸到不帶電的帶電部件后人體對流過身體電流的承受程度。泄露電流是指在沒有故障施加電壓的情況下，電氣中帶互相絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過其周圍介質(zhì)或絕緣表面所形成的電流稱為泄露電流。   2.6 直流電阻試驗 直流電阻是電機主要的參數(shù)，通過直流電阻可以初步判斷被試?yán)@組的線徑、匝數(shù)、接線方式是否滿足電機設(shè)計的要求，也可以簡單判斷被試?yán)@組是否存在匝間短路現(xiàn)象。直流電阻也參與電機的溫升、效率、功率因數(shù)等參數(shù)的計算，對后續(xù)參數(shù)的準(zhǔn)確性具有非常重要的作用。   2.7 外殼防護(hù)等級試驗 電機的外殼防護(hù)等級按照GB/T 4942.1-2006執(zhí)行，外殼防護(hù)主要關(guān)注旋轉(zhuǎn)電機整體結(jié)構(gòu)的防護(hù)。外殼防護(hù)試驗是為了驗證電機整體結(jié)構(gòu)是否能防止人體觸及或接近殼內(nèi)帶電部分和觸及殼內(nèi)轉(zhuǎn)動部件，防止固體異物進(jìn)入電機，防止由于電機進(jìn)水而引起的有害影響。 2.8 濕熱試驗 濕熱試驗是將一定數(shù)量的被測電機整機或零部件放入符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求的濕熱試驗箱中，經(jīng)過一定的試驗周期后，通過絕緣電阻試驗、泄露電流試驗和耐電壓試驗等測試來判斷被測電機的耐濕熱性能的能力。 2.9 鹽霧試驗 鹽霧試驗是一種利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來模擬海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境，從而考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。鹽霧對金屬材料表面的腐蝕是由于含有的氯離子穿透金屬表面的氧化層和防護(hù)層與內(nèi)部金屬發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)引起的。另外氯離子含有一定的水合能，易被吸附在金屬表面的孔隙、裂縫，排擠并取代氧化層中的氧，最終將非溶性的氧化物變成可溶性的氯化物，使鈍化態(tài)表面變成活潑表面，從容造成對產(chǎn)品的不良反應(yīng)。 2.10 霉菌試驗 霉菌是在自然界分布很廣的一種微生物，它廣泛存在于土壤、空氣中。在濕度大和溫度高的濕熱地帶，霉菌極易生長繁殖，使產(chǎn)品內(nèi)外表面大量長霉，嚴(yán)重時會影響產(chǎn)品的工作性能。霉菌試驗是檢測產(chǎn)品抗霉菌的能力、驗證在有利于霉菌生長的條件下產(chǎn)品是否受到霉菌的有害影響。霉菌試驗依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為 GB/T 2423.16——2008 2.11 低溫/高溫試驗 對于暴露于高溫或低溫環(huán)境的產(chǎn)品，由于高溫或低溫會改變其組成材料的物理特性，因此可能會對其工作性能造成暫時或永久性的損害。低溫環(huán)境對產(chǎn)品造成的典型不利影響主要有以下幾種：①材料的硬化和脆化：②在對溫度瞬變的響應(yīng)中，不同材料產(chǎn)生不同程序的收縮，以及不同零部件的膨脹率不同，引起零部件相互咬死：③油于黏度增加，潤滑油的潤滑作用和流動性降低；④電子器件（電阻器、電容器等）性能改變；⑤變壓器或機電部件的性能改變：⑥減振架剛性增加：⑦破裂與龜裂、脆裂、沖擊強度改變和強度降低：⑧受約束的玻璃產(chǎn)生靜疲勞：⑨水的冷凝和結(jié)冰：⑩燃燒率變化。高溫環(huán)境對產(chǎn)品造成的不利影響與低溫環(huán)境類似，例如高溫會導(dǎo)致塑料處理的軟化、潤滑油的汽化等。 為了評價產(chǎn)品在高溫或低溫環(huán)境下使用、運輸或存儲的能力，特制定了低溫試驗和高溫試驗的試驗方法和試驗等級要求，這就是高溫試驗和低溫試驗的原理。低溫試驗或高溫試驗依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為GB/T2423.1一2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》和GB/T2423.2一2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫》。 2.12 高溫高濕試驗 根據(jù)環(huán)境溫度與人體熱平衡之間的關(guān)系，通常將>35℃的生活和生產(chǎn)環(huán)境視為高溫環(huán)境，相對濕度>60%的環(huán)境視為高濕環(huán)境。在某些特殊區(qū)域（比如夏天的海邊）會同時出現(xiàn)高溫和高濕環(huán)境，這種環(huán)境對人體的舒適度會產(chǎn)生影響，也會對在該環(huán)境中放置或運行的設(shè)備產(chǎn)生持續(xù)性的影響，因此有些產(chǎn)品對高溫高濕環(huán)境有適應(yīng)性的要求，需要借助高溫高濕試驗來判定產(chǎn)品的這個適應(yīng)能力，這就是高溫高濕試驗的原理。 高溫高濕試驗條件所要求的溫度、濕度和持續(xù)時間按照高溫試驗標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.2一 2008和恒定濕熱試驗標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.3一2016選取。各產(chǎn)品選擇的高溫高濕的試驗條件存在一定的差異。例如，熱帶電梯內(nèi)的零部件所采用的試驗條件為高溫85℃、相對濕度85%、持續(xù)的時間為1000h,此試驗條件俗稱“雙85”試驗。 2.13 溫度變化試驗 電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍，比如將設(shè)備和元器件從溫暖的室內(nèi)移至寒冷的室外環(huán)境、突然遭遇淋雨或浸入至冷水中冷卻、大功率電阻的熱輻射引起周邊元器件表面溫度升高而其他部分依然是冷卻的。溫度變化是區(qū)別于設(shè)備在低溫或高溫狀態(tài)下運行或存儲的一種狀態(tài)，嚴(yán)重的溫度變化會導(dǎo)致電子設(shè)備和元器件的損傷，嚴(yán)重時會導(dǎo)致設(shè)備和元器件工作不正常。 溫度變化試驗用來確定一次或連續(xù)多次的溫度變化對試驗樣品的影響，其對試驗樣品的影響取決于條件試驗的高溫值和低溫值、高溫和低溫的持續(xù)時間、溫度切換的變化速率、試驗的循環(huán)次數(shù)、熱量傳遞的數(shù)量溫度變化試驗依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為GB/T2423.22一2012《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗 N:溫度變化》。