電機(jī)測(cè)試報(bào)告辦理

按照電機(jī)試驗(yàn)的完整性，可以將電機(jī)試驗(yàn)分為型式試驗(yàn)、單項(xiàng)目或部分項(xiàng)目試驗(yàn)等；其中型式試驗(yàn)包括產(chǎn)品的性能試驗(yàn)、安全試驗(yàn)、氣候適應(yīng)性試驗(yàn)和機(jī)械適應(yīng)性試驗(yàn)等，其目的是全面考查產(chǎn)品的符合性；單項(xiàng)目或部分項(xiàng)目試驗(yàn)是為了驗(yàn)證某些參數(shù)指標(biāo)或性能而進(jìn)行的試驗(yàn)。 電機(jī)的試驗(yàn)項(xiàng)目也可以用四個(gè)模型來表達(dá)： ?電氣性能試驗(yàn)?zāi)Ｐ? ?安全性能試驗(yàn)?zāi)Ｐ? ?機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)?zāi)Ｐ? ?氣候環(huán)境試驗(yàn)?zāi)Ｐ? 1.1 電氣性能試驗(yàn)?zāi)Ｐ? 電氣性能試驗(yàn)主要為溫升試驗(yàn)、空載試驗(yàn)、負(fù)載試驗(yàn)、最大轉(zhuǎn)矩和最小轉(zhuǎn)矩試驗(yàn)、起動(dòng)轉(zhuǎn)矩和起動(dòng)電流試驗(yàn)等。這些試驗(yàn)的主要目的是考察被測(cè)電機(jī)的耐熱等級(jí)、輸出能力、使用壽命和非正常工作時(shí)的適應(yīng)性。 電機(jī)放置于各種模擬的環(huán)境中，經(jīng)過相應(yīng)的程序后，通過試驗(yàn)后的觀察或試驗(yàn)，評(píng)定電機(jī)是否具備相應(yīng)的環(huán)境適應(yīng)性。此類試驗(yàn)主要驗(yàn)證電機(jī)在各種環(huán)境中，電機(jī)的絕緣能力，原材料的選用等是否滿足設(shè)計(jì)要求。  2 通用測(cè)試方法 2.1 絕緣電阻試驗(yàn) 直流電壓施加于電介質(zhì)，經(jīng)過一定時(shí)間極化過程結(jié)束后，流過電介質(zhì)的泄露電流對(duì)應(yīng)的電阻稱為絕緣電阻。絕緣電阻是電氣設(shè)備和電氣線路最基本的絕緣指標(biāo)。絕緣電阻試驗(yàn)的原理是測(cè)量電氣設(shè)備和電氣線路的冷態(tài)或熱態(tài)絕緣電阻，將測(cè)量的絕緣電阻值與標(biāo)準(zhǔn)要求值進(jìn)行比較從而判斷被測(cè)電機(jī)是否滿足電氣絕緣要求。  選擇適當(dāng)量程的絕緣電阻儀，將絕緣電阻儀的引出線連接在被測(cè)電機(jī)的指定位置，讀取絕緣電阻儀上的讀數(shù)，即可得到被測(cè)電機(jī)相應(yīng)位置的絕緣電阻。 2.2 耐電壓試驗(yàn) 耐電壓試驗(yàn)也稱為介電強(qiáng)度試驗(yàn)，其試驗(yàn)的原理是給被測(cè)電機(jī)繞組與接地之間提供規(guī)定的工頻試驗(yàn)電壓或直流試驗(yàn)電壓，該電壓會(huì)在繞組與接地之間產(chǎn)生泄露電流，在規(guī)定時(shí)間內(nèi)如果泄露電流小于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，則判斷電機(jī)通過了耐壓試驗(yàn)，這就是電機(jī)耐壓試驗(yàn)的原理。   2.3 耐沖擊電壓試驗(yàn) 電機(jī)在運(yùn)行過程中可能會(huì)受到雷電過電壓或操作過電壓的沖擊，這種沖擊會(huì)造成電機(jī)絕緣系統(tǒng)的損壞，嚴(yán)重時(shí)會(huì)造成電機(jī)工作的不正常，甚至?xí)斐芍卮笫鹿?。為了避免電機(jī)的絕緣系統(tǒng)的損傷，有必要在電機(jī)的繞組與機(jī)殼之間施加標(biāo)準(zhǔn)的1/2/50μs雷擊沖擊電壓波，通過觀察耐沖擊電壓試驗(yàn)儀的聲光報(bào)警及繞組是否存在擊穿閃爍的現(xiàn)象來判斷電機(jī)是否符合雷擊或操作過電壓引起的電壓沖擊，這就是耐沖擊電壓試驗(yàn)的原理   2.4 繞組匝間絕緣試驗(yàn) 繞組匝間絕緣試驗(yàn)采用沖擊波形比較法進(jìn)行測(cè)試，其原理為使用一個(gè)高壓窄脈沖施加于被測(cè)繞組的兩端，此脈沖能量在繞組與匹配電容之間產(chǎn)生一個(gè)并聯(lián)自激振蕩，由于繞組直流電阻的存在，此諧振為一種衰減震蕩波并較快趨近于零，分析被測(cè)繞組震蕩波形與標(biāo)準(zhǔn)繞組震蕩波形的差異，即可判斷被測(cè)繞組是否存在匝間短路或匝間絕緣不良的問題。   2.5 接觸電流和泄露電流試驗(yàn) 接觸電流是指產(chǎn)品正常工作條件下，那些可以觸及的不解地的帶電部分通過人體阻抗到大地的電流，模擬的是人體接觸到不帶電的帶電部件后人體對(duì)流過身體電流的承受程度。泄露電流是指在沒有故障施加電壓的情況下，電氣中帶互相絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過其周圍介質(zhì)或絕緣表面所形成的電流稱為泄露電流。   2.6 直流電阻試驗(yàn) 直流電阻是電機(jī)主要的參數(shù)，通過直流電阻可以初步判斷被試?yán)@組的線徑、匝數(shù)、接線方式是否滿足電機(jī)設(shè)計(jì)的要求，也可以簡(jiǎn)單判斷被試?yán)@組是否存在匝間短路現(xiàn)象。直流電阻也參與電機(jī)的溫升、效率、功率因數(shù)等參數(shù)的計(jì)算，對(duì)后續(xù)參數(shù)的準(zhǔn)確性具有非常重要的作用。   2.7 外殼防護(hù)等級(jí)試驗(yàn) 電機(jī)的外殼防護(hù)等級(jí)按照GB/T 4942.1-2006執(zhí)行，外殼防護(hù)主要關(guān)注旋轉(zhuǎn)電機(jī)整體結(jié)構(gòu)的防護(hù)。外殼防護(hù)試驗(yàn)是為了驗(yàn)證電機(jī)整體結(jié)構(gòu)是否能防止人體觸及或接近殼內(nèi)帶電部分和觸及殼內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)部件，防止固體異物進(jìn)入電機(jī)，防止由于電機(jī)進(jìn)水而引起的有害影響。 2.8 濕熱試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)是將一定數(shù)量的被測(cè)電機(jī)整機(jī)或零部件放入符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求的濕熱試驗(yàn)箱中，經(jīng)過一定的試驗(yàn)周期后，通過絕緣電阻試驗(yàn)、泄露電流試驗(yàn)和耐電壓試驗(yàn)等測(cè)試來判斷被測(cè)電機(jī)的耐濕熱性能的能力。 2.9 鹽霧試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)是一種利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來模擬海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境，從而考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗(yàn)。鹽霧對(duì)金屬材料表面的腐蝕是由于含有的氯離子穿透金屬表面的氧化層和防護(hù)層與內(nèi)部金屬發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)引起的。另外氯離子含有一定的水合能，易被吸附在金屬表面的孔隙、裂縫，排擠并取代氧化層中的氧，最終將非溶性的氧化物變成可溶性的氯化物，使鈍化態(tài)表面變成活潑表面，從容造成對(duì)產(chǎn)品的不良反應(yīng)。 2.10 霉菌試驗(yàn) 霉菌是在自然界分布很廣的一種微生物，它廣泛存在于土壤、空氣中。在濕度大和溫度高的濕熱地帶，霉菌極易生長(zhǎng)繁殖，使產(chǎn)品內(nèi)外表面大量長(zhǎng)霉，嚴(yán)重時(shí)會(huì)影響產(chǎn)品的工作性能。霉菌試驗(yàn)是檢測(cè)產(chǎn)品抗霉菌的能力、驗(yàn)證在有利于霉菌生長(zhǎng)的條件下產(chǎn)品是否受到霉菌的有害影響。霉菌試驗(yàn)依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為 GB/T 2423.16——2008 2.11 低溫/高溫試驗(yàn) 對(duì)于暴露于高溫或低溫環(huán)境的產(chǎn)品，由于高溫或低溫會(huì)改變其組成材料的物理特性，因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)或永久性的損害。低溫環(huán)境對(duì)產(chǎn)品造成的典型不利影響主要有以下幾種：①材料的硬化和脆化：②在對(duì)溫度瞬變的響應(yīng)中，不同材料產(chǎn)生不同程序的收縮，以及不同零部件的膨脹率不同，引起零部件相互咬死：③油于黏度增加，潤(rùn)滑油的潤(rùn)滑作用和流動(dòng)性降低；④電子器件（電阻器、電容器等）性能改變；⑤變壓器或機(jī)電部件的性能改變：⑥減振架剛性增加：⑦破裂與龜裂、脆裂、沖擊強(qiáng)度改變和強(qiáng)度降低：⑧受約束的玻璃產(chǎn)生靜疲勞：⑨水的冷凝和結(jié)冰：⑩燃燒率變化。高溫環(huán)境對(duì)產(chǎn)品造成的不利影響與低溫環(huán)境類似，例如高溫會(huì)導(dǎo)致塑料處理的軟化、潤(rùn)滑油的汽化等。 為了評(píng)價(jià)產(chǎn)品在高溫或低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或存儲(chǔ)的能力，特制定了低溫試驗(yàn)和高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)方法和試驗(yàn)等級(jí)要求，這就是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的原理。低溫試驗(yàn)或高溫試驗(yàn)依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為GB/T2423.1一2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》和GB/T2423.2一2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》。 2.12 高溫高濕試驗(yàn) 根據(jù)環(huán)境溫度與人體熱平衡之間的關(guān)系，通常將>35℃的生活和生產(chǎn)環(huán)境視為高溫環(huán)境，相對(duì)濕度>60%的環(huán)境視為高濕環(huán)境。在某些特殊區(qū)域（比如夏天的海邊）會(huì)同時(shí)出現(xiàn)高溫和高濕環(huán)境，這種環(huán)境對(duì)人體的舒適度會(huì)產(chǎn)生影響，也會(huì)對(duì)在該環(huán)境中放置或運(yùn)行的設(shè)備產(chǎn)生持續(xù)性的影響，因此有些產(chǎn)品對(duì)高溫高濕環(huán)境有適應(yīng)性的要求，需要借助高溫高濕試驗(yàn)來判定產(chǎn)品的這個(gè)適應(yīng)能力，這就是高溫高濕試驗(yàn)的原理。 高溫高濕試驗(yàn)條件所要求的溫度、濕度和持續(xù)時(shí)間按照高溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.2一 2008和恒定濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.3一2016選取。各產(chǎn)品選擇的高溫高濕的試驗(yàn)條件存在一定的差異。例如，熱帶電梯內(nèi)的零部件所采用的試驗(yàn)條件為高溫85℃、相對(duì)濕度85%、持續(xù)的時(shí)間為1000h,此試驗(yàn)條件俗稱“雙85”試驗(yàn)。 2.13 溫度變化試驗(yàn) 電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍，比如將設(shè)備和元器件從溫暖的室內(nèi)移至寒冷的室外環(huán)境、突然遭遇淋雨或浸入至冷水中冷卻、大功率電阻的熱輻射引起周邊元器件表面溫度升高而其他部分依然是冷卻的。溫度變化是區(qū)別于設(shè)備在低溫或高溫狀態(tài)下運(yùn)行或存儲(chǔ)的一種狀態(tài)，嚴(yán)重的溫度變化會(huì)導(dǎo)致電子設(shè)備和元器件的損傷，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備和元器件工作不正常。 溫度變化試驗(yàn)用來確定一次或連續(xù)多次的溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響，其對(duì)試驗(yàn)樣品的影響取決于條件試驗(yàn)的高溫值和低溫值、高溫和低溫的持續(xù)時(shí)間、溫度切換的變化速率、試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)、熱量傳遞的數(shù)量溫度變化試驗(yàn)依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)為GB/T2423.22一2012《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) N:溫度變化》。